Assessment and Application of Defect Characterization via Lifetime Spectros ...
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Titel: Assessment and Application of Defect Characterization via Lifetime Spectroscopy in High Purity C-Si., Einband: Taschenbuch, Autor: Regina Post, Verlag: Fraunhofer Verlag, Sprache: Englisch, Seiten: 172, Maße: 205x145x11 mm, Gewicht: 246 g, Verkäufer: Wegmann1855, Schlagworte: Fotovoltaik Photovoltaik Solartechnik / Fotovoltaik Körper (physikalisch) / Festkörper Umwelt / Technik TECHNOLOGY & ENGINEERING / Environmental / General Photovoltaics Semiconductor Physics Gallium Doping Carrier Lifetime Ingenieure, Forscher, Wissenschaftler.
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