Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design
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Produktart:Bücher
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ISBN-10:9811985502
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ISBN-13:9789811985508
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Buchtitel:Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Res
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Untertitel:A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based
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Autor:Xiaowei Li, Cheng Liu, Guihai Yan
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Erscheinungsjahr:März 2023
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Verlag:Springer Nature Singapore
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Format:Gebundene Ausgabe
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Sprache:Englisch
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Höhe:2.4 cm
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Gewicht:653 g
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Länge:24.1 cm
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Breite:16 cm
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ISBN:9811985502
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