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Xiaowei Li (u. a.) | Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient...

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Titel: Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design | Zusatz: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach | Medium: Taschenbuch | Autor: Xiaowei Li (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xviii / 304 S. / 1 s/w Illustr. / 304 p. 1 illus. | Auflage: 2023 | Sprache: Englisch | Seiten: 324 | Maße: 235 x 155 x 18 mm | Erschienen: 03.03.2024 | Anbieter: Faboplay.

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Buchtitel:

Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Sc
Autor:

Xiaowei Li
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2024
Anzahl der Seiten:

324
Marke:

Springer Singapore, Springer Nature Singapore
Hersteller:

Springer Singapore, Springer Nature Singapore
Verlag:

Springer Singapore, Springer Nature Singapore
Format:

Taschenbuch
Genre:

Importe
Ausgabe:

2023
Titelzusatz:

A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Schlagworte:

Hardware, Rechnerarchitektur und Logik-Entwurf, Informatik, EDV,
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

9811985537

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