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Built-In Test For VLSI: Pseudorandom Techniques

15,90 €

Zwischenzeitiger Abverkauf über andere Vertriebswege vorbehalten. Wir bemühen uns, unsere Bestände so aktuell wie möglich zu halten. Gewicht 654g. Buchdaten & Bucherhaltung John Wiley & Sons, New York, 1987.

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  • Autor:
    Bardell, Paul H./ McAnney, William/ Savir, Jacob
  • Einband:
    Leineneinband
  • Sprache:
    deutsch
  • Verlag:
    John Wiley & Sons
  • Erscheinungsjahr:
    1987
  • Gewicht:
    654 g
  • Standardversand:
    Sonstige kostenlos - Lieferung zwischen 20. June 2025 und 21. June 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
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