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I. L. Sayers (u. a.) | Advanced Simulation and Test Methodologies for VLSI...

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Titel: Advanced Simulation and Test Methodologies for VLSI Design | Medium: Buch | Autor: I. L. Sayers (u. a.) | Einband: Gebunden | Inhalt: xiv / 378 S. | Auflage: 1989 | Sprache: Englisch | Seiten: 396 | Maße: 241 x 160 x 26 mm | Erschienen: 28.02.1989 | Anbieter: Faboplay.

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  • Buchtitel:
    Advanced Simulation and Test Methodologies for VLSI Design
  • Autor:
    I. L. Sayers
  • Sprache:
    Englisch
  • Erscheinungsjahr:
    1989
  • Anzahl der Seiten:
    396
  • Marke:
    Springer Netherland, Springer Netherlands
  • Hersteller:
    Springer Netherland, Springer Netherlands
  • Verlag:
    Springer Netherland, Springer Netherlands
  • Format:
    Gebundene Ausgabe
  • Genre:
    Importe
  • Ausgabe:
    1989
  • Schlagworte:
    Informatik, EDV, Elektrotechnik, Prozessor, Mikroprozessor, Rechn
  • Herstellungsland und -region:
    Deutschland
  • ISBN:
    0747600015
  • Standardversand:
    DHL Paket 2,95 EUR - Lieferung zwischen 23. June 2025 und 28. June 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
  • Versand nach:
    Deutschland
  • Versand ausgeschlossen:
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