Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Circuits Hassan Most
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Titel: Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Circuits, Untertitel: Statistical design, Soft errors modeling, Adaptive body bias, Negative capacitance circuits, Einband: Taschenbuch, Autor: Hassan Mostafa, Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, Sprache: Englisch, Seiten: 296, Maße: 220x150x18 mm, Gewicht: 459 g, Verkäufer: buch-mimpf.
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Verlag:LAP LAMBERT Academic Publishing
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Autor:Hassan Mostafa
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Seiten:296
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Gewicht:459
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Einband:Taschenbuch
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Format:220x150x18 mm
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Sprache:Englisch
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Marke:LAP LAMBERT Academic Publishing
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Fachbereich:Hardcover/Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik/Te...
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Publikationstitel:Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Ci...
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Erscheinungsjahr:20140126
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Produktart:Bücher
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Buchtitel:Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Ci...
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Untertitel:Statistical design, Soft errors modeling, Adaptive body bias, ...
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Film-/Fernseh-Titel:Keine Angabe
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Publikationsname:Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Ci...
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Musiktitel:Keine Angabe
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Interpret:Keine Angabe
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ISBN:9783659513619
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