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Hassan Mostafa (u. a.) | Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS...

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Titel: Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Circuits | Zusatz: Statistical design, Soft errors modeling, Adaptive body bias, Negative capacitance circuits | Medium: Taschenbuch | Autor: Hassan Mostafa (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: 296 S. | Ausstattung / Beilage: Paperback | Sprache: Englisch | Seiten: 296 | Maße: 220 x 150 x 18 mm | Erschienen: 26.01.2014 | Anbieter: Faboplay.

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Publikationsname:

Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Circu
Autor:

Hassan Mostafa
Produktart:

Mathematik
Erscheinungsjahr:

2014
Sprache:

Englisch
Anzahl der Seiten:

296
Marke:

LAP LAMBERT Academic Publishing
Hersteller:

LAP LAMBERT Academic Publishing
Verlag:

LAP LAMBERT Academic Publishing
Format:

Taschenbuch
Genre:

Mathematik, Naturwissenschaften, Technik, Medizin
Titelzusatz:

Statistical design, Soft errors modeling, Adaptive body bias, Neg
Schlagworte:

Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Technik
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

365951361X

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