Die Inhalte dieser Webseite enthalten Affiliate-Links, für die wir möglicherweise eine Vergütung erhalten.
  • Bild 1

Mohsen Raji (u. a.) | Soft Error Reliability of VLSI Circuits | Taschenbuch

Ø 0.0
0 Bewertungen
47,95 €

Titel: Soft Error Reliability of VLSI Circuits | Zusatz: Analysis and Mitigation Techniques | Medium: Taschenbuch | Autor: Mohsen Raji (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xiii / 114 S. / 30 s/w Illustr. / 9 farbige Illustr. / 114 p. 39 illus. / 9 illus. in color. | Auflage: 1st edition 2021 | Sprache: Englisch | Seiten: 128 | Maße: 235 x 155 x 8 mm | Erschienen: 14.10.2021 | Anbieter: Faboplay.

Jetzt bei Ebay:

Zum Angebot *
  • Publikationsname:
    Soft Error Reliability of VLSI Circuits
  • Autor:
    Mohsen Raji
  • Produktart:
    Mathematik
  • Erscheinungsjahr:
    2021
  • Sprache:
    Englisch
  • Anzahl der Seiten:
    128
  • Marke:
    Springer International Publishing
  • Hersteller:
    Springer International Publishing
  • Verlag:
    Springer International Publishing
  • Format:
    Taschenbuch
  • Genre:
    Mathematik, Naturwissenschaften, Technik, Medizin
  • Ausgabe:
    1st edition 2021
  • Titelzusatz:
    Analysis and Mitigation Techniques
  • Schlagworte:
    Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Kybernetik und Sy
  • Herstellungsland und -region:
    Deutschland
  • ISBN:
    3030516121
  • Standardversand:
    DHL Paket 2,95 EUR - Lieferung zwischen 15. July 2025 und 17. July 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
  • Versand nach:
    Deutschland
  • Versand ausgeschlossen:
    Afrika , Asien , Mittelamerika und Karibik , Dänemark , Schweiz , Vatikan , Moldawien , Republik Kroatien , Portugal , Malta , ... und weitere

Ähnliche Artikel

Produktbild - Soft Error Reliability of VLSI Circuits Mohsen Raji

Soft Error Reliability of VLSI Circuits Mohsen Raji

53,49 €
Zum Angebot
Produktbild - Soft Error Reliability of VLSI Circuits Mohsen Raji

Soft Error Reliability of VLSI Circuits Mohsen Raji

53,49 €
Zum Angebot
Produktbild - VLSI Design Techniques for Analogue and Digital Circuits

VLSI Design Techniques for Analogue and Digital Circuits

11,54 €
Zum Angebot
Produktbild - Ramachandra Chitakudige (u. a.) | VLSI Circuit Edit Technology | Taschenbuch

Ramachandra Chitakudige (u. a.) | VLSI Circuit Edit Technology | Taschenbuch

37,95 €
Zum Angebot
Produktbild - Soft Error Reliability of VLSI Circuits - 9783030516093

Soft Error Reliability of VLSI Circuits - 9783030516093

42,51 €
Zum Angebot
Produktbild - Mohsen Denden | Structures Radio Fréquence à substrats conformés | Taschenbuch

Mohsen Denden | Structures Radio Fréquence à substrats conformés | Taschenbuch

34,95 €
Zum Angebot
Produktbild - Paul Molitor (u. a.) | Einführung in den VLSI-Entwurf | Taschenbuch | Deutsch

Paul Molitor (u. a.) | Einführung in den VLSI-Entwurf | Taschenbuch | Deutsch

49,95 €
Zum Angebot
Produktbild - Luc Claesen (u. a.) | VLSI-SoC: Internet of Things Foundations | Taschenbuch

Luc Claesen (u. a.) | VLSI-SoC: Internet of Things Foundations | Taschenbuch

49,95 €
Zum Angebot
Produktbild - Rajesh A. Thakker (u. a.) | Applications of Evolutionary Algorithms in VLSI

Rajesh A. Thakker (u. a.) | Applications of Evolutionary Algorithms in VLSI

49,95 €
Zum Angebot
Produktbild - Soft Error Reliability of VLSI Circuits - 9783030516123

Soft Error Reliability of VLSI Circuits - 9783030516123

42,31 €
Zum Angebot
Produktbild - Mohsen Koohi (u. a.) | GSFS: GPGPU-based Secure File System | Taschenbuch (2016)

Mohsen Koohi (u. a.) | GSFS: GPGPU-based Secure File System | Taschenbuch (2016)

47,95 €
Zum Angebot
Produktbild - Mohamed Elkawokgy | CMOS VLSI LOW-POWER DESIGN | Taschenbuch | Englisch (2018)

Mohamed Elkawokgy | CMOS VLSI LOW-POWER DESIGN | Taschenbuch | Englisch (2018)

42,95 €
Zum Angebot
Produktbild - Manoj Singh Gaur (u. a.) | VLSI Design and Test | Taschenbuch | Englisch (2013)

Manoj Singh Gaur (u. a.) | VLSI Design and Test | Taschenbuch | Englisch (2013)

49,95 €
Zum Angebot
Produktbild - Subhadip Kundu (u. a.) | Strategies to Reduce Power during VLSI Circuit Testing

Subhadip Kundu (u. a.) | Strategies to Reduce Power during VLSI Circuit Testing

42,95 €
Zum Angebot
Produktbild - Hafizur Rahaman (u. a.) | Progress in VLSI Design and Test | Taschenbuch (2012)

Hafizur Rahaman (u. a.) | Progress in VLSI Design and Test | Taschenbuch (2012)

49,95 €
Zum Angebot
Produktbild - Sanjay Kumar | LOW POWER VLSI CIRCUIT DESIGN | Taschenbuch | Englisch (2011)

Sanjay Kumar | LOW POWER VLSI CIRCUIT DESIGN | Taschenbuch | Englisch (2011)

49,95 €
Zum Angebot
Produktbild - Mohsen Barghamadi (u. a.) | Biomechanics of Swimming | Taschenbuch | Englisch

Mohsen Barghamadi (u. a.) | Biomechanics of Swimming | Taschenbuch | Englisch

63,95 €
Zum Angebot
Produktbild - Victor Grimblatt (u. a.) | VLSI-SoC: Technology Advancement on SoC Design | Buch

Victor Grimblatt (u. a.) | VLSI-SoC: Technology Advancement on SoC Design | Buch

49,95 €
Zum Angebot
Produktbild - Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques

Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques

50,83 €
Zum Angebot
Produktbild - Abdelrahman El-Kafrawy (u. a.) | Analog CMOS VLSI Circuits | Taschenbuch (2011)

Abdelrahman El-Kafrawy (u. a.) | Analog CMOS VLSI Circuits | Taschenbuch (2011)

58,95 €
Zum Angebot
* Affiliate-Link zur Verkaufsplattform Ebay