Random Testing of Digital Circuits: Theory and Applications, Rene David
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Produktart:Bücher
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ISBN-10:0824701828
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Buchtitel:Random Testing of Digital Circuits
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Untertitel:Theory and Applications
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Autor:Rene David
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Erscheinungsjahr:April 1998
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Verlag:Taylor & Francis Inc
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Format:Gebundene Ausgabe
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Sprache:Englisch
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Höhe:2.9 cm
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Gewicht:853 g
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Länge:23.6 cm
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Breite:15.9 cm
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ISBN:0824701828
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