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Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability Souvik Mahapatra

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Titel: Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability | Zusatz: Characterization and Modeling of Device Architecture, Material and Process Impact | Medium: Taschenbuch | Redaktion: Souvik Mahapatra | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xxiii / 311 S. / 24 s/w Illustr. / 189 farbige Illustr. / 311 p. 213 illus. / 189 illus. in color. | Auflage: 1st edition 2022 | Sprache: Englisch | Seiten: 336 | Maße: 235 x 155 x 19 mm | Erschienen: 27.11.2022 | Anbieter: Buchbär.

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