Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability Souvik Mahapatra
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Titel: Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability | Zusatz: Characterization and Modeling of Device Architecture, Material and Process Impact | Medium: Taschenbuch | Redaktion: Souvik Mahapatra | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xxiii / 311 S. / 24 s/w Illustr. / 189 farbige Illustr. / 311 p. 213 illus. / 189 illus. in color. | Auflage: 1st edition 2022 | Sprache: Englisch | Seiten: 336 | Maße: 235 x 155 x 19 mm | Erschienen: 27.11.2022 | Anbieter: Buchbär.
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Buchtitel:Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability
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Autor:Souvik Mahapatra
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Sprache:Englisch
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Erscheinungsjahr:2022
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Anzahl der Seiten:336
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Marke:Springer Singapore, Springer Nature Singapore
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Hersteller:Springer Singapore, Springer Nature Singapore
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Verlag:Springer Singapore, Springer Nature Singapore
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Format:Taschenbuch
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Genre:Importe
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Ausgabe:1st edition 2022
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Titelzusatz:Characterization and Modeling of Device Architecture, Material an
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Schlagworte:Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Physik der konden
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Redaktion:Souvik Mahapatra
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Herstellungsland und -region:Deutschland
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ISBN:9811661227
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