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Souvik Mahapatra | Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS...

95,95 €

Titel: Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors | Zusatz: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling | Medium: Taschenbuch | Redaktion: Souvik Mahapatra | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xvi / 269 S. / 134 s/w Illustr. / 67 farbige Illustr. / 269 p. 201 illus. / 67 illus. in color. | Auflage: Softcover reprint of the original 1st edition 2016 | Sprache: Englisch | Seiten: 288 | Maße: 235 x 155 x 15 mm | Erschienen: 23.10.2016 | Anbieter: Faboplay.

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Buchtitel:

Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors
Autor:

Souvik Mahapatra
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2016
Anzahl der Seiten:

288
Marke:

Springer India, Springer India Ltd.
Hersteller:

Springer India, Springer India Ltd.
Verlag:

Springer India, Springer India Ltd.
Format:

Taschenbuch
Genre:

Importe
Ausgabe:

Softcover reprint of the original 1st edition 2016
Titelzusatz:

Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC
Schlagworte:

Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Physik der konden
Redaktion:

Souvik Mahapatra
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

8132234243

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