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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Joseph Go*dstein (u. a.)

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Titel: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis | Zusatz: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists | Medium: Taschenbuch | Autor: Joseph Go*dstein (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xiii / 673 S. / 322 s/w Illustr. / 673 p. 322 illus. | Auflage: 1981 | Sprache: Englisch | Seiten: 692 | Maße: 235 x 155 x 37 mm | Erschienen: 20.03.2013 | Anbieter: Buchbär.

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Buchtitel:

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Autor:

Joseph Go*dstein
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2013
Anzahl der Seiten:

692
Marke:

Springer US, Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
Hersteller:

Springer US, Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
Verlag:

Springer US, Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
Format:

Taschenbuch
Genre:

Importe
Ausgabe:

1981
Titelzusatz:

A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Schlagworte:

Geowissenschaften, Werkstoffprüfung, Entwicklungsbiologie, Verste
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

1461332753

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