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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation by Kwang-Ting Cheng (Eng

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By Kwang-Ting Cheng, Vishwani D. Agrawal. Country of Publication Netherlands. Series Number 73. Series The Springer International Series in Engineering and Computer Science. At The Nile, if you're looking for it, we've got it.

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ISBN-13:

9780792390251
Book Title:

Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
ISBN:

9780792390251

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