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VLSI Design and Test Manoj Singh Gaur

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Titel: VLSI Design and Test, Untertitel: 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings, Einband: Taschenbuch, Autor: Manoj Singh Gaur, Verlag: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg, Sprache: Englisch, Seiten: 404, Maße: 235x155x22 mm, Gewicht: 610 g, Verkäufer: buch-mimpf, Schlagworte: Digital Circuits SRAM arrays VLSI multi-processor architectures network-on-chip.

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