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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits by Jian Cheng Zhang (E

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By Jian Cheng Zhang, M.A. Styblinski. 1 Introduction. - 1.1 Design for Quality and Manufacturability. - 1.2 Notation. - 1.3 Interpretation of Basic Concepts. - 1.4 Summary. - 2 Overview of IC Statistical Modeling.

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ISBN-13:

9780792395515
Book Title:

Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
ISBN:

9780792395515

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