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Joseph Go*dstein (u. a.) | X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments

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Titel: X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments | Medium: Taschenbuch | Redaktion: Joseph Go*dstein (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xviii / 372 S. | Auflage: Softcover reprint of the original 1st edition 1995 | Sprache: Englisch | Seiten: 396 | Maße: 254 x 178 x 22 mm | Erschienen: 21.10.2012 | Anbieter: Faboplay.

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Buchtitel:

X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments
Autor:

Joseph Go*dstein
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2012
Anzahl der Seiten:

396
Marke:

Springer US, Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
Hersteller:

Springer US, Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
Verlag:

Springer US, Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
Format:

Taschenbuch
Genre:

Importe
Ausgabe:

Softcover reprint of the original 1st edition 1995
Schlagworte:

Biochemie, Biophysik, Biologie, Analytische Chemie, Werkstoffprüf
Redaktion:

Joseph Go*dstein
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

1461357381

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