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Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems Sheldon Tan

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Titel: Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems, Untertitel: Modeling, Analysis and Optimization, Einband: Buch, Autor: Sheldon Tan, Verlag: Springer International Publishing, Springer International Publishing, Sprache: Englisch, Seiten: 504, Maße: 241x160x33 mm, Gewicht: 916 g, Verkäufer: buch-mimpf, Schlagworte: Bias temperature instability for devices and circuits EM-induced dynamic reliability management Electromigration in VLSI Interconnects Reliability in nanometer integrated systems Transistor aging modeling, analysis and mitigation.

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Seiten:

504
Gewicht:

916
Einband:

Buch
Marke:

Springer International Publishing, Springer International Publ...
Fachbereich:

Hardcover/Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik/Te...
Publikationstitel:

Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
Buchtitel:

Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
Untertitel:

Modeling, Analysis and Optimization
Film-/Fernseh-Titel:

Keine Angabe
Musiktitel:

Keine Angabe
Interpret:

Keine Angabe
Schlagworte:

Bias temperature instability for devices and circuits EM-indu...
ISBN:

9783030261719
Produktart:

Lehrbuch
Format:

Gebundene Ausgabe
Erscheinungsjahr:

2019
Anzahl der Seiten:

504 Seiten
Autor:

Sheldon Tan
Verlag:

Springer International Publishing
Publikationsname:

Long-Term Reliability of Nanometer Vlsi Systems
Sprache:

Englisch

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