VLSI Design and Test for Systems Dependability
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ISBN-10:4431568638
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ISBN-13:9784431568636
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Buchtitel:VLSI Design and Test for Systems Dependability
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Höhe:4.4 cm
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Gewicht:1218 g
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Länge:23.5 cm
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Breite:15.5 cm
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ISBN:9784431568636
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Produktart:Lehrbuch
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Format:Taschenbuch
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Erscheinungsjahr:2019
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Anzahl der Seiten:820 Seiten
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Autor:Shojiro Asai
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Verlag:Springer Japan, Springer Tokyo
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Publikationsname:Vlsi Design And Test For Systems Dependability
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Sprache:Englisch
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